Enhancing Temporal Logic Falsification with Specification Transformation and Valued Booleans
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2020
Test generation
Testing
Embedded systems
Simulation
Författare
Johan Lidén Eddeland
Volvo Cars
Chalmers, Elektroteknik, System- och reglerteknik
Koen Claessen
Chalmers, Data- och informationsteknik, Funktionell programmering
Nicholas Smallbone
Chalmers, Data- och informationsteknik, Funktionell programmering
Zahra Ramezani
Chalmers, Elektroteknik, System- och reglerteknik
Sajed Miremadi
Volvo Cars
Knut Åkesson
Chalmers, Elektroteknik, System- och reglerteknik
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
0278-0070 (ISSN) 19374151 (eISSN)
Vol. 39 12 5247-5260 8957695Modellbaserad Testning av Mekatroniska System (TESTRON)
VINNOVA (2015-04893), 2016-01-01 -- 2019-12-31.
Systematisk testning av cyberfysiska system (SyTeC)
Vetenskapsrådet (VR) (2016-06204), 2017-01-01 -- 2022-12-31.
Ämneskategorier
Inbäddad systemteknik
Datavetenskap (datalogi)
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/TCAD.2020.2966480