Anisotropic transport properties in InAs/AlSb heterostructures
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010
Hall effect
surface morphology
electric resistance
III-V semiconductors
dislocations
semiconductor growth
electron mobility
indium compounds
high electron mobility transistors
aluminium compounds
cooling
two-dimensional electron gas
semiconductor heterojunctions
Författare
Giuseppe Moschetti
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
Huan Zhao Ternehäll
Chalmers, Teknisk fysik, Fysikalisk elektronik
Per-Åke Nilsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
Shu Min Wang
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik
Alexei Kalaboukhov
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik
G. Dambrine
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)
Lille I: Universite des Sciences et Technologies de Lille
S. Bollaert
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)
Lille I: Universite des Sciences et Technologies de Lille
L. Desplanque
Lille I: Universite des Sciences et Technologies de Lille
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)
X. Wallart
Lille I: Universite des Sciences et Technologies de Lille
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)
Jan Grahn
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
Applied Physics Letters
0003-6951 (ISSN) 1077-3118 (eISSN)
Vol. 97 24 3- 243510Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik (2010-2017)
Materialvetenskap
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1063/1.3527971