Mechanical and thermal characterisaton of a novel nanocomposite thermal interface material for electronics packaging
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2015
Författare
Shuangxi Sun
Shanghai University
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Si Chen
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Shanghai University
Xin Luo
Shanghai University
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Yifeng Fu
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
SHT Smart High-Tech
Ye Lilei
SHT Smart High-Tech
Johan Liu
Shanghai University
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Microelectronics and Reliability
0026-2714 (ISSN)
Vol. 56 129-135Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Materialteknik
DOI
10.1016/j.microrel.2015.10.028